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從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置發(fā)布時(shí)間：2024-10-25

從微觀角度分析絕緣材料老化和擊穿原因--空間電荷測(cè)量裝置使用聲學(xué)技術(shù)的空間電荷測(cè)量已成為研究固體材料介電性能的常用方法。脈沖電聲（PEA）方法已用于各種工業(yè)應(yīng)用。例如用于離子導(dǎo)電材料的，高壓絕緣材料，材料的內(nèi)部電荷、電場(chǎng)和電勢(shì)分布的研究和分析，可以實(shí)時(shí)檢測(cè)電荷分布并將其轉(zhuǎn)換為空間...

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2024
4-23

薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的主要應(yīng)用
薄膜擊穿電壓測(cè)試儀的主要應(yīng)用薄膜擊穿電壓測(cè)試儀是一種廣泛應(yīng)用于多種領(lǐng)域的精密測(cè)量設(shè)備，主要用于測(cè)量材料在電場(chǎng)作用下的絕緣性能和擊穿電壓。華測(cè)50點(diǎn)隔膜擊穿耐壓試驗(yàn)儀主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直...
2024
4-22

介電譜在材料測(cè)試中的應(yīng)用
介電譜在材料測(cè)試中的應(yīng)用介電譜，因?yàn)槠溆懻摰氖求w系在外時(shí)間變化電場(chǎng)刺激下的滯后響應(yīng)，故也稱(chēng)為介電弛豫譜，本質(zhì)上是物質(zhì)與電磁波相互作用，主要是電磁場(chǎng)與原子的外層電子，以及晶體中的原子或離子相互作用產(chǎn)生的位移極化響應(yīng)。介電譜在實(shí)驗(yàn)上源于19世紀(jì)...
2024
4-22

高低溫介電常數(shù)測(cè)試儀操作時(shí)需要注意的事項(xiàng)
高低溫介電常數(shù)測(cè)試儀操作時(shí)需要注意的事項(xiàng)高低溫介電常數(shù)測(cè)試儀注意事項(xiàng)：1.測(cè)量試品前應(yīng)先對(duì)試品進(jìn)行高壓試驗(yàn)，證明在電橋工作電壓下無(wú)噪聲，電離等現(xiàn)象出現(xiàn)，然后才能進(jìn)行測(cè)試。2.測(cè)試時(shí)操作人員必須集中思想，工作前做好一切準(zhǔn)備工作，測(cè)試地點(diǎn)周?chē)鷳?yīng)...
2024
4-19

簡(jiǎn)談熱釋電系數(shù)和應(yīng)用前景以及相關(guān)實(shí)驗(yàn)設(shè)備
淺談熱釋電系數(shù)簡(jiǎn)介和應(yīng)用前景以及相關(guān)測(cè)試設(shè)備一、什么是熱釋電系數(shù)熱釋電系數(shù)是描述熱釋電材料自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化率的物理量。它定義為自發(fā)極化強(qiáng)度(P)隨溫度(T)的變化率(\frac)，英文名為pyroelectriccoe...
2024
4-19

壓電系數(shù)測(cè)試儀D33用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件的參數(shù)測(cè)量
壓電系數(shù)測(cè)試儀D33用于鐵電、壓電材料以及相關(guān)器件的參數(shù)測(cè)量壓電系數(shù)測(cè)試儀，也稱(chēng)為d33儀，是一款用來(lái)分析樣品壓電性能的儀器。它可以將機(jī)械信號(hào)與電信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，通過(guò)在特定方向上施加壓力，測(cè)量并得出樣品在該方向上的壓電系數(shù)。壓電系數(shù)是表示壓電...
2024
4-18

鐵電薄膜鐵電性能測(cè)試及相關(guān)測(cè)試設(shè)備
鐵電薄膜鐵電性能測(cè)試及相關(guān)測(cè)試設(shè)備一、鐵電性能簡(jiǎn)介：鐵電體:在一定溫度范圍內(nèi)存在自發(fā)極化,自發(fā)極化具有兩個(gè)或多個(gè)可能的取向,其取向可能隨電場(chǎng)而轉(zhuǎn)向.鐵電體并不含“鐵”,只是它與鐵磁體具有磁滯回線(xiàn)相類(lèi)似，具有電滯回線(xiàn)，因而稱(chēng)為鐵電體。在某一溫...

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